Departamento de Física
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Item Real time interferometric measurement of differential refractive index in low concetration solutions(1999) Sainz, Carmen; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumenItem Interferometría por barrido de fase debido a corrimientos cromáticos(1999) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Sandoz, Patrick; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Excitation de FeXXIII(1999) Galavis, Martha Elena; Machado, L.; Mendoza, C.; Pradhan, A. K.; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumenItem Atomic data from the iron project. XXXVIII. Electron impact excitation of FeXVI(1999) Galavis, Martha Elena; Eissner, W.; Zeippen, C.J.C. Mendoza; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Relativistic f-values for FeXXIII(1999) Galavis, Martha Elena; Ramirez, J. M.; Mendoza, C.; Berrington, K; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumenItem Atomic data from the iron project. XXXVIII. Electron impact excitation of the fine- structure transitions in the n=3 complex of FeXV(1999) Galavis, Martha Elena; Eissner, W.; Zeippen, C.J.C. Mendoza; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Real time interferometric measurement of differential refractive index in low concentration solutions(1999) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Escalona, Rafael; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Fracciones racionales de base tipo Chevyshev(2000) Zamudio, Jorge; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Aplicaciones refractométricas del procesamiento cruzado de interferogramas en el dominio híbrido espacio-temporal(2000) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Escalona, Rafael; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumenItem Double phase modulation in the Hybrid Spatial Chromatic Domian as a refractometry tool(2000) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Escalona, Rafael; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Proyecto del Hierro: excitación de FeXIII por impacto electrónico(2000) Galavis, Martha Elena; Mendoza, C.; Zeippen, C.J.; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumenItem Técnicas de minimax utilizando bases de fracciones racionales(2000) Zamudio, Jorge; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Aplicaciones refractométricas del procesamiento cruzado de interferogramas en el dominio híbrido espacio-espectral(2001) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Escalona, Rafael; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Aplicaciones refractometricas del procesamiento cruzado de interferogramas en el dominio híbrido espacio-espectral(2001) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Escalona, Rafael; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Measurement of both sample width and differential refractive index through spectrally resolved white light interferometry(2001) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Escalona, Rafael; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Longitudes de onda y tasas radiactivas en FeXXIV(2001) Galavis, Martha Elena; Bautista, M.; Kallman, T. K.; Mendoza, C.; Ramirez, J. M.; Zeippen, C.J.; Pradhan, A. K.; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumenItem Data atómica para las líneas satélites de iones de tipo He(2001) Galavis, Martha Elena; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumenItem Measurement of both sample width and differential refractive index through spectrally resolved white light interferometry(2001) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Escalona, José; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumenItem Data atómica para las líneas de iones de tipo He(2001) Galavis, Martha Elena; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasItem Stationary phase in spectrally resolved white light interferometry (SRWLI) as a refractometry tool(2002) Sainz, Carmen; Calatroni, José; Escalona, Rafael; Gerencia Tecnológica y/o Tecnología; Departamento de Física; Facultad de CienciasResumen