Méndez, D.Vargas, R.Mostany, J.Borrás, C.Scharifker, Benjamín2024-04-242024-04-242014https://saber.unimet.edu.ve/handle/20.500.14516/3152ResumenEstados superficiales en semiconductores nanoestructurados: evidencia voltamétrica de la acumulación de carga6150327