Estados superficiales en semiconductores nanoestructurados: evidencia voltamétrica de la acumulación de carga
| dc.conference.date | oct. 2014 | |
| dc.conference.name | XXVII Encuentro Nacional de Electroquímica | |
| dc.conference.place | Mérida, Venezuela | |
| dc.contributor.area | Gerencia Tecnológica y/o Tecnología | |
| dc.contributor.author | Méndez, D. | |
| dc.contributor.author | Vargas, R. | |
| dc.contributor.author | Mostany, J. | |
| dc.contributor.author | Borrás, C. | |
| dc.contributor.author | Scharifker, Benjamín | |
| dc.contributor.department | Departamento de Química | |
| dc.contributor.faculty | Facultad de Ciencias | |
| dc.date.available | 2024-04-24T20:24:15Z | |
| dc.date.issued | 2014 | |
| dc.description.abstract | Resumen | |
| dc.identifier.uri | https://saber.unimet.edu.ve/handle/20.500.14516/3152 | |
| dc.title | Estados superficiales en semiconductores nanoestructurados: evidencia voltamétrica de la acumulación de carga |